创意电子宣布推出新的效能监控方法和解决方案,相关内容已发表于 IEEE
监控系统单芯片在制程、电压与温度 (PVT) 变化下的效能,往往极具挑战性,特别是在先进制程节点中,寄生效应对整体芯片效能的影响已占主导地位。过往多数研究成果所提出的效能监控方法,都是以不同操作条件下的已知/已预测关键路径情况为依据。然而,如果关键路径发生识别或预测不当,这些方法就无用武之地。本文旨在提出采用崭新机器学习架构的芯片效能监控方法,该方法无需仰赖各种 PVT 情况中的关键路径信息,就能准确比对芯片效能。以量测芯片效能为基础的实验结果显示,在 PVT 发生大范围变化的最坏情况下,所提出的方法可达到 98.5% 的准确性。
